工業(yè)內(nèi)窺鏡是一種利用圖像傳感器成像檢查內(nèi)部缺陷的檢測(cè)工具，圖像清晰的重要性不言而喻。不少人有這樣的誤區(qū)：成像清不清晰，主要看像素?cái)?shù)高不高。其實(shí)，決定工業(yè)內(nèi)窺鏡成像清晰度的核心要素，并不是圖像傳感器的像素?cái)?shù)，而是圖像傳感器的類(lèi)型！本文對(duì)這一問(wèn)題做簡(jiǎn)要分析。

首先，要了解工業(yè)內(nèi)窺鏡的工作環(huán)境及面臨的挑戰(zhàn)。工業(yè)內(nèi)窺鏡利用內(nèi)置于探頭前端的圖像傳感器捕獲圖像，而被檢測(cè)對(duì)象（例如發(fā)動(dòng)機(jī)）內(nèi)部往往缺乏環(huán)境光，工業(yè)內(nèi)窺鏡必須自己提供照明。為了經(jīng)由孔探孔或縫隙實(shí)施無(wú)損檢測(cè)，探頭的直徑通常都非常小，例如：4mm、6mm，這導(dǎo)致從探頭前端發(fā)射的照明光與正常環(huán)境光的照明效果是無(wú)法相提并論的，因此圖像傳感器能夠接收到的入射光也是相對(duì)有限的，這對(duì)圖像傳感器在低照度條件下的成像能力提出了挑戰(zhàn)。

因此，在低照度環(huán)境下能夠清晰成像的圖像傳感器才能勝任內(nèi)窺檢測(cè)任務(wù)。現(xiàn)階段圖像傳感器主要有CCD和CMOS兩種。與CMOS相比較，CCD具有高解析度、高感光度、高動(dòng)態(tài)范圍和低噪聲水平等優(yōu)勢(shì)，特別是在缺少環(huán)境光的低照度內(nèi)窺檢測(cè)條件下，CCD憑借出色的感光性能和一致的光電轉(zhuǎn)換，依然可以拍攝出清晰、細(xì)膩、純凈、色彩逼真的高畫(huà)質(zhì)畫(huà)面。

而這一點(diǎn)令CMOS望塵莫及，對(duì)低照度光線的不敏感，使得再多的CMOS像素也難以得到清晰的內(nèi)窺檢測(cè)圖像，因?yàn)檎嬲軌蚋泄夤ぷ鞯摹坝行袼亍钡臄?shù)量會(huì)大打折扣。

由此可見(jiàn)，在內(nèi)窺檢測(cè)這一特殊的應(yīng)用場(chǎng)景下，圖像傳感器是CCD還是CMOS對(duì)成像效果起到主導(dǎo)作用，而采用CCD圖像傳感器的工業(yè)內(nèi)窺鏡能提供更清晰的檢測(cè)圖像。

當(dāng)然，在圖像傳感器類(lèi)型起主導(dǎo)作用的前提下，像素?cái)?shù)量對(duì)圖像的細(xì)膩程度有一定的影響，但是市場(chǎng)上宣傳的像素?cái)?shù)量同樣存在一些誤區(qū)：

1. 像素?cái)?shù)量的指代對(duì)象不一致。例如：韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡官網(wǎng)上標(biāo)注的“CCD原生像素”數(shù)量，明確指明了是CCD圖像傳感器自身的像素?cái)?shù)量；而有的品牌卻用檢測(cè)圖像的顯示分辨率或存儲(chǔ)后的圖像文件分辨率作為像素?cái)?shù)量，這顯然并不是圖像傳感器的真實(shí)像素?cái)?shù)。

2. 像素的數(shù)量有一定的水分。有些品牌產(chǎn)品的所謂像素是在圖像傳感器真實(shí)像素的基礎(chǔ)上通過(guò)軟件插值算法計(jì)算獲得的，因此其像素?cái)?shù)量往往比圖像傳感器的真實(shí)像素?cái)?shù)量更多、甚至是成倍提升。但這樣做會(huì)對(duì)成像效果產(chǎn)生負(fù)面影響，可能導(dǎo)致影像反差降低、銳度下降，無(wú)法真實(shí)反映現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際情況。

因此，在判斷工業(yè)內(nèi)窺鏡成像是否清晰時(shí)，應(yīng)該先了解是否采用了CCD圖像傳感器，在此基礎(chǔ)上再參考像素?cái)?shù)量；通常情況下，知名品牌更值得信賴(lài)，因?yàn)橹放圃诠倬W(wǎng)上往往都有圖像傳感器相關(guān)參數(shù)的確切說(shuō)明，而且是可以與實(shí)際成像效果相互印證的。

韋林是采用CCD圖像傳感器的專(zhuān)業(yè)工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌，其多個(gè)系列的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡采用的都是 SUPER HAD CCD 圖像傳感器，并在官方網(wǎng)站的產(chǎn)品參數(shù)上明確標(biāo)注了圖像傳感器類(lèi)型、面陣尺寸、探頭直徑、以及原生像素?cái)?shù)量。韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡用更佳的色彩還原和清晰度、流暢無(wú)滯后的實(shí)時(shí)檢測(cè)畫(huà)面，幫助各行業(yè)用戶(hù)在產(chǎn)品質(zhì)量控制和設(shè)備缺陷檢測(cè)中，擁有更高的檢測(cè)效率和檢測(cè)質(zhì)量。

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